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cypress賽普拉斯的主要缺陷與故障的檢測對于專業(yè)技術人員的知識和經(jīng)驗要求是非常高的。芯片制造商通常將這四種測試技術結(jié)合起來，以確保集成電路芯片從設計到生產(chǎn)再到應用整個過程的可靠性和安全性。此方法易于實現(xiàn)，但無法檢測具有非功能性影響的故障。cypress賽普拉斯的結(jié)構(gòu)測試是對內(nèi)置測試的改進。 它結(jié)合了掃描技術，主要用于生產(chǎn)芯片的故障檢測。 缺陷故障檢測是根據(jù)芯片的實際生產(chǎn)情況，通過檢查芯片生產(chǎn)過程的質(zhì)量來查明是否存在缺陷。